Hoc semiconductivum XLPE Scutum Compositum est proprie formata funis fabricandi compositi ad certos Medii Voltage (MV) producendos et ad 35kV altae potentiae voltages. Ut elementum essentiale, clypeum semiconductorem interiorem laevem format et clypeum insulationis stratis in retinacula XLPE insulatas, ut distributio campi electrica uniformis et impedimenta partiales obvenientes.
Compositum est semicon crosslinkabile semicon conductivum ex composito polymerum cum optimized carbonis dispersionis nigrae. Praeclaram convenientiam praebet cum insulatione TR-XLPE, interfaciem immaculatam creans, quae contaminationem extenuat et auget longi temporis observantiam funes subterranei, industriae et substationis. Ad fabricandum ad signa internationalia strictiora ut IEC 60502-2, optima electio est ad clypeos funestos durabiles et efficaces producendos.
| quantitas; | |
|---|---|
Interiorem Semiconducive scutum compositis ad MV potentiam funem usque ad 35kv
Haec materia adhibetur ut filum semiconductivum crosslinkable et cable materiam protegens pro funibus potentiae altae voltages.
fabricatum est utens:
Qualis Eva resina
Conductiva carbonis nigra (materia principalis conductiva)
Crosslinking agente
Facilisis et alia additiva specialized
Mixta caruncula et processus fabricationis stabilis et certae qualitatis massam post massam efficit.
| Parameter | specificationem |
|---|---|
| Applicatio | Materia scutica pro 35kV crosslinkable polyethylene (XLPE) insulatas funem conductor |
| Maximum opus temperatus | 90°C |
| Proprietas | Unit | Test methodo | Typical Value |
|---|---|---|---|
| Densitas @ 23°C | G / CM⊃3; | ASTM D792 | 1.12 |
| Tensile vires | MPA | IEC 60811-1-1 | 17.0 |
| Elongatio ad confractus | % | IEC 60811-1-1 | 308 |
| Impulsum embritmentum @ -40°C | Defectum numerus / piece | ASTM D746 | 0/30 |
| Proprietas | Variationis (%) |
|---|---|
| Tensile vires variation | VII |
| Effrego elongatio variation | -5 |
| Res | eae |
|---|---|
| Prolongatio sub onere | L% |
| Permanent deformatio | 0% |
| Temperature | Value (Ω·cm) | Test Method |
|---|---|---|
| @ 20°C | 25 | Astm d257 |
| @ 90°C | 240 | Astm d257 |
| Parameter | Commendatio |
|---|---|
| Commendatur apparatu | Polyethylene Utilia extruder |
| Ratio ducatur (L/D) | xviii ad 25, 1; |
| Filtrum reticulum | LX ad LXXX genus (suadetur) |
| Zona | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | collo | capitis | die |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Temp (°C) | 75 | 85 | 105 | 115 | 115 | 115 | 115 | 115 |
| Conditio | condicio |
|---|---|
| Temperamentum | Locus temperatus |
| Enormitas | Mundus, siccus, bene ventilatas |
| Post foramen | Excoquatur post longum tempus foramen (expositae ad humorem) |
| Parameter | specificationem |
|---|---|
| Net pondus per sarcina | 600 kg |
| Interiorem packaging | Plastic sacculo signati film |
| exteriores packaging | Corrugated currus cum palletized bottom |
| Utilitas | Description |
|---|---|
| 35kV aestimavit | Apta summus intentione XLPE systemata velit |
| XC ° F temperatus working | Optimum scelerisque stabilitatem |
| Minimum volumen resistivity | 25 Ω·cm @ 20°C - superior conductivity |
| Minimum volumen resistivity @ XC°C | 240 Ω·cm - stabulum ad temperatura operating |
| Firmum canus perficientur | Variatio minimae post 135°C / 168h senescit |
| Congruunt processus | Firmum mixta caruncula processus - batch-ad-batch reliability |
| Princeps distrahentes vires | 17.0 MPa |
| bonum elongationis | CCCVIII% ad confractus |
| Minimum temperatus impulsum resistentia | 0/30 defectis @ -40° C |
| Parameter | Precium |
|---|---|
| Materia genus | Crosslinkable semiconductive protegens compositis |
| Basis resinae | EVA |
| Conductive filler | Conductum nigrum carbonis |
| Applicatio | 35kV XLPE funem conductor insulatas protegens |
| Max working temperatus | 90°C |
| Densitas (23°C) | 1.12 g/cm³ |
| Tensile vires | 17.0 MPa |
| Elongatio ad confractus | 308% |
| Volumen resistivity (20°C) | 25 Ω·cm |
| Volumen resistivity (90°C) | 240 Ω·cm |
| Calidum elongatio | L% |
| Calidum continua deformatione | 0% |
| Packaging | 600 kg (plastic sacculum signatum + CONRUGIS lobortis) |
Q: Quid est hoc compositum propter?
A: Adhibetur ut in transversis semiconductivis scutulatis materia pro 35kV XLPE funes potentiarum insulatarum, super conductorem applicata ad interfaciem lenis, conductive praebendam.
Q: Quid est maximum opus temperatus?
A: 90°C ad continuam operationem.
Q: What is the volume resistivity at 20°C?
A: 25 Ω·cm — optima conductivity pro semiconductivo protegendo.
Q: What is the volume resistivity at 90°C?
A: 240 Ω·cm – stabilis perficiens ad temperamentum operans.
Q: Quid test modi adhibentur?
A: ASTM D792 (density), IEC 60811-1-1 (distractio/elongatio), ASTM D746 (impulsum), ASTM D257 (volumen resistentiae).
Q: Quid est packaging magnitudine?
A: 600 kg rete pondus per sarcina - cinematographicum cinematographicum internum plasticum + extimum CONRUGIS lobortis cum fundo palletized.
Q: Quomodo condi?
A: Repone ad cella temperies in mundo, sicco, bene ventilato. Si loculus diu apertus fuerit et umor detectio suspecta est, siccis ante uteris.
Q: Quid extrusionem apparatum commendatur?
A: A polyethylene-extruder specialium cum L/D ratione 18 ad 25:1 et 60-80 typus reticulum filum.
Q: Quid est calidum continuatio effectus?
A: Elongatio sub onere: L%, Deformatio permanens: 0% (tentata CC°C, 0.2 MPa, 15 min).
Q: An bene aetate?
A: Ita. Post 135°C pro 168 horis, fortitudo distrahens variatio +7% est et elongatio variatio -5% est optima stabilitas.
| Proprietas | hoc compositum | Typical Standard |
|---|---|---|
| Volumen resistivity @ 20°C | 25 Ω·cm | ≤ 100 Ω·cm (optimum) |
| Volumen resistivity @ 90°C | 240 Ω·cm | ≤ 500 Ω·cm (bonum) |
| Tensile vires | 17.0 MPa | ≥ 10 MPa |
| Elongatio ad confractus | 308% | ≥ 200% |
| Calidum elongatio | L% | ≤ LXXX% |
| Impulsum embrittlement (-40°C) | 0/30 defectis | ≤ 15/30 |
